露絲慧

(蘇州凱新電源技術有限公司，江蘇    蘇州    215003）

0    引言

    眾所周知，今天的攜帶型電源設計者所面臨的最嚴峻挑戰就是為當今的高性能CPU提供電源。近年來，內核CPU所需的電源電流每兩年就翻一番，即攜帶型內核CPU電源電流需求會高達40A之大，而電壓在0.9V和1.75V之間。事實上，儘管電流需求在穩步增長，而留給電源的空間卻並沒有增加，這個現實已達到甚至超出了在熱設計方面的極限。

    對於如此大電流的電源，通常將其分割為兩個或多相，即每一相提供15A到25A，例如，將一個40A電源變成了兩個20A電源。雖然可以使元器件的選擇更容易，但是並沒有額外增加板上或環境空間，對於減輕熱設計的工作基本上沒有多大幫助。這是因為在設計大電流電源時，MOSFET是最難確定的器件。這一點在筆記本電腦中尤其顯著，在這種環境中，散熱器、風扇、熱管和其他散熱方式通常都留給了CPU。而電源設計常常要面臨諸多不利因素,諸如狹小的空間和靜止的氣流以及其元器件散發的熱量等惡劣環境，而且，沒有任何其他方式可以用來協助散熱。

    那麼如何挑選MOSFET呢？回答是，在挑選MOSFET時，首先要選擇有足夠的電流處理能力的，並具有足夠的散熱通道的，最後還要從量化上考慮必要的熱耗和保證足夠的散熱路徑，據此，計算出MOSFET的功耗，並確定它們的工作溫度。本文分析了一個多相、同步整流、降壓型CPU電源中MOSFET功耗的計算方法。

1    MOSFET功耗的計算

    為了確定一個MOSFET是否適合於特定的應用，必須計算其功耗，MOSFET功耗（P_L）主要包含阻性損耗（P_R）和開關損耗（P_S）兩部分，即

    P_L=P_R＋P_S

    MOSFET的功耗很大程度上依賴於它的導通電阻R_DS(on)，但是，MOSFET的R_DS(on)與它的結溫T_j有關。而T_j又依賴於MOSFET管的功耗以及MOSFET的熱阻θ_JA。由於功耗的計算涉及到若干個相互依賴的因素，為此，可以採用一種迭代過程獲得我們所需要的結果，如圖1流程所示。

圖1    選擇同步整流和開關MOSFET的迭代過程流程

    迭代過程起始於為每個MOSFET假定一個T_j，然後，計算每個MOSFET各自的功耗和允許的環境溫度。當允許的環境溫度達到或略高於機殼內最高溫度設計值時，這個過程便結束了。這是一種逆向的設計方法，因為，先從一個假定的T_j開始計算，要比先從環境溫度計算開始容易一些。

    能否將這個計算所得的環境溫度盡可能地提高呢？回答是不行的。因為，這勢必要求採用更昂貴的MOSFET，並在MOSFET下鋪設更多的銅膜，或者要求採用一個更大、更快速的風扇產生氣流等，所有這些都是不切實際的。

    對於開關和同步整流MOSFET，可以選擇一個允許的最高管芯結溫T_j(hot)作為迭代過程的出發點，多數MOSFET的資料手冊只規定了＋25℃下的最大R_DS(on)，不過最近有些產品也提供了＋125℃下的最大值。MOSFET的R_DS(on)隨著溫度的增高而增加，典型溫度係數在0.35％／℃～0.5％／℃之間，如圖2所示。如果拿不准，可以用一個較為保守的溫度係數和MOSFET的＋25℃規格(或＋125℃規格)，在選定的T_j(hot)下以最大R_DS(on)作近似估算，即

    R_DS(on)hot=R_DS(on)SPEC{1＋0.005×〔T_j(hot)－T_SPEC〕}（1）

式中：R_DS(on)SPEC為計算所用的MOSFET導通電阻；

      T_SPEC為規定R_DS(on)SPEC時的溫度。

圖2    典型功率MOSFET導通電阻的溫度係數

〔在0.35％/℃（實線）至0.5％/℃虛線之間〕

    利用計算出的R_DS(on)hot可以確定同步整流和開關MOSFET的功耗。為此，將進一步討論如何計算各個MOSFET在給定的管芯溫度下的功耗，以及完成迭代過程的後續步驟，其整個過程詳述如圖1所示。

1.1    同步整流的功耗

    除最輕負載外，同步整流MOSFET的漏、源電壓在開通和關閉過程中都會被續流二極體鉗位。因此，同步整流幾乎沒有開關損耗，它的功耗PL只須考慮阻性損耗即可。最壞情況下的損耗發生在同步整流工作在最大占空比時，也就是輸入電壓達到最低時。利用同步整流的R_DS(on)和工作占空比，通過歐姆定律可以近似計算出它的功耗，即

    P_L=〔×R_DS(on)hot〕×（2）

1.2    開關MOSFET的功耗

    開關MOSFET的阻性損耗P_R計算和同步整流非常相似，也要利用它的占空比(但不同於前者)和R_DS(on)hot，即

    P_R=〔×R_DS(on)hot〕×（3）

    開關MOSFET的開關損耗計算起來比較困難，因為它依賴於許多難以量化並且沒有規範的因素，這些因素同時影響到開通和關斷過程。為此，可以首先用以下粗略的近似公式對某個MOSFET進行評價，然後通過實驗對其性能進行驗證，即

    P_S=（4）

式中：C_rss為MOSFET的反向傳輸電容(資料手冊中的一個參數)；

      f_s為開關頻率；

      I_gatb為MOSFET的柵極驅動器在MOSFET處於臨界導通(V_gs位於柵極充電曲線的平坦區域)時的吸收／源出電流。

    若從成本因素考慮，將選擇範圍縮小到特定的某一代MOSFET(不同代MOSFET的成本差別很大)，就可以在這一代的器件中找到一個能夠使功率耗散最小的器件。這個器件應該具有均衡的阻性和開關損耗,使用更小、更快的器件所增加的阻性損耗將超過它在開關損耗方面的降低，而使用更大〔而R_DS(on)更低〕的器件所增加的開關損耗將超過它對於阻性損耗的降低。

    如果V_in是變化的，需要在V_in(max)和V_in(min)下分別計算開關MOSFET的功耗。最壞情況可能會出現在最低或最高輸入電壓下。該功耗是兩種因素之和：在V_in(min)時達到最高的阻性耗散(占空比較高),以及在V_in(max)時達到最高的開關損耗。一個好的選擇應該在V_in的兩種極端情況下具有大致相同的功耗，並且在整個V_in範圍內保持均衡的阻性和開關損耗。

    如果損耗在V_in(min)時明顯高出，則阻性損耗起主導作用。這種情況下，可以考慮用一個電流更大一點的MOSFET(或將一個以上的MOSFET相並聯)以降低R_DS(on)。但如果在V_in(max)時損耗顯著高出，則應該考慮用電流小一點的MOSFET(如果是多管並聯的話，或者去掉一個M0SFET)，以便使其開關速度更快一點。如果阻性和開關損耗已達平衡，但總功耗仍然過高，也有多種辦法可以解決：

    ——改變或重新定義輸入電壓範圍；

    ——降低開關頻率以減小開關損耗，或選用R_DS(on)更低的MOSFET；

    ——增加柵極驅動電流，有可能降低開關損耗；

    ——採用一個技術改進的MOSFET，以便同時獲得更快的開關速度、更低的R_DS(on)和更低的柵極電阻。

    需要指正的是,脫離某個給定的條件對MOSFET的尺寸作更精細的調整是不大可能的，因為器件的選擇範圍是有限的。選擇的底線是MOSFET在最壞情況下的功耗必須能夠被耗散掉。

2    關於熱阻

    按照圖1所示，繼續進行迭代過程的下一步，以便尋找合適的MOSFET來作為同步整流和開關MOSFET。這一步是要計算每個MOSFET周圍的環境溫度，在這個溫度下，MOSFET結溫將達到我們的假定值。為此，首先需要確定每個MOSFET結到環境的熱阻θ_JA。

    熱阻的估算可能會比較困難。單一器件在一個簡單的印刷板上的θ_JA的測算相對容易一些，而要在一個系統內去預測實際電源的熱性能是很困難的，因為，那裏有許多熱源在爭奪有限的散熱通道。如果有多個MOSFET被並聯使用，其整體熱阻的計算方法，和計算兩個以上並聯電阻的等效電阻一樣。

    我們可以從MOSFET的θ_JA規格開始。對於單一管芯、8引腳封裝的MOSFET來講，θ_JA通常接近於62℃／W。其他類型的封裝，有些帶有散熱片或暴露的導熱片，其熱阻一般會在40℃／W至50℃／W(見表1所列)。可以用下面的公式計算MOSFET的管芯相對於環境的溫升T_j(rise)，即

    T_j(rise)=P_L×θ_JA（5）

    接下來，計算導致管芯達到預定T_j(hot)時的環境溫度T_ambient， 即

表1    MOSFET封裝的典型熱阻

說明：由於封裝的機械特性、管芯尺寸和安裝及綁定方法等原因，所以同樣封裝類型的不用器件，以及不同製造商出品的相似封裝的熱阻也各不相同，為此，應仔細考慮MOSFET資料手冊中的熱資訊。

    T_ambient=T_j(hot)－T_j(rise)（6）

    如果計算出的θ_JA低於機殼的最大額定環境溫度，必須採用下列一條或多條措施：

    ——升高預定的T_j(hot)，但不要超出資料手冊規定的最大值；

    ——選擇更合適的MOSFET以降低其功耗；

    ——通過增加氣流或MOSFET周圍的銅膜降低θ_JA。

    再重算T_ambient(採用速算表可以簡化計算過程，經過多次反復方可選出一個可接受的設計)。而表1為MOSFET封裝的典型熱阻。

    如果計算出的T_ambient高出機殼的最大額定環境溫度很多，可以採取下列一條或全部措施：

    ——降低預定的T_j(hot)；

    ——減小專用於MOSFET散熱的銅膜面積；

    ——採用更廉價的MOSFET。

    這些步驟是可選的，因為在此情況下MOSFET不會因過熱而損壞。不過，通過這些步驟只要保證T_ambient高出機殼最高溫度一定裕量，便可以降低線路板面積和成本。

    上述計算過程中最大的誤差源來自於θ _JA。應該仔細閱讀資料手冊中有關θJA規格的所有注釋。一般規範都假定器件安裝在4.82g/cm²的銅膜上。銅膜耗散了大部分的功率，不同數量的銅膜θ _JA差別很大。例如，帶有4.82g/cm²銅膜的D－Pak封裝的θ _JA會達到50℃／W。但是如果只將銅膜鋪設在引腳的下麵，θ_JA將高出兩倍(見表1)。如果將多個MOSFET並聯使用，θ _JA主要取決於它們所安裝的銅膜面積。兩個器件的等效θ _JA可以是單個器件的一半，但必須同時加倍銅膜面積。也就是說，增加一個並聯的MOSFET而不增加銅膜的話，可以使R_DS(on)減半但不會改變θ _JA很多。最後，θ _JA規範通常都假定沒有任何其他器件向銅膜的散熱區傳遞熱量。但在大電流情況下，功率通路上的每個元器件，甚至是印刷板線條都會產生熱量。為了避免MOSFET過熱，須仔細估算實際情況下的θ _JA，並採取下列措施：

    ——仔細研究選定MOSFET現有的熱性能方面的資訊；

    ——考察是否有足夠的空間，以便設置更多的銅膜、散熱器和其他器件；

    ——確定是否有可能增加氣流；

    ——觀察一下在假定的散熱路徑上，是否有其他顯著散熱的器件；

    ——估計一下來自周圍元件或空間的過剩熱量或冷量。

3    結語

    熱管理是大電流攜帶型DC/DC設計中難度較大的領域之一。這種難度迫使我們有必要採用上述迭代流程。儘管該過程能夠引領熱性能設計者靠近最佳設計，但是還必須通過實驗來最終確定設計流程是否足夠精確。應計算MOSFET的熱性能，為它們提供足夠的耗散途徑，然後在實驗室中檢驗這些計算，這樣有助於獲得一個耐用而安全的熱設計。

作者簡介

    露絲慧（1960－），男，高級工程師，自動控制專業，長期從事工控系統設計與生產。